Misuratore di densità areale Super X-Ray
Principi di misurazione
Quando il raggio irradia l'elettrodo, verrà assorbito, riflesso e diffuso dall'elettrodo, con conseguente attenuazione dell'intensità del raggio dopo l'elettrodo trasmesso rispetto all'intensità del raggio incidente, e il suo rapporto di attenuazione è negativamente esponenziale con il peso o la densità areale dell'elettrodo.
I=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)
I_0 : Intensità iniziale del raggio
I: Intensità del raggio dopo l'elettrodo di trasmissione
λ : Coefficiente di assorbimento dell'oggetto misurato
m : Spessore/densità areale dell'oggetto misurato
Caratteristiche principali dell'attrezzatura
Confronto tra la misurazione del sensore a semiconduttore e quella del sensore laser
● Misurazione di contorni e caratteristiche dettagliate: misurazione del contorno della densità areale con risoluzione spaziale millimetrica ad alta velocità e alta precisione (60 m/min)
● Misurazione ultralarghezza: adattabile a larghezze di rivestimento superiori a 1600 mm.
● Scansione ad altissima velocità: velocità di scansione regolabile da 0 a 60 m/min.
● Rilevatore di raggi semiconduttori innovativo per la misurazione degli elettrodi: risposta 10 volte più rapida rispetto alle soluzioni tradizionali.
● Azionato da motore lineare ad alta velocità e alta precisione: la velocità di scansione è aumentata di 3-4 volte rispetto alle soluzioni tradizionali.
● Circuiti di misura ad alta velocità sviluppati autonomamente: la frequenza di campionamento arriva fino a 200 kHz, migliorando l'efficienza e la precisione del rivestimento a circuito chiuso.
● Calcolo della perdita di capacità di assottigliamento: la larghezza del punto può essere ridotta fino a 1 mm. Può misurare con precisione caratteristiche dettagliate come i contorni dell'area di assottigliamento del bordo e i graffi nel rivestimento dell'elettrodo.
Interfaccia software
Visualizzazione personalizzabile dell'interfaccia principale del sistema di misura
● Determinazione dell'area di diradamento
● Determinazione della capacità
● Determinazione del graffio
Parametri tecnici
| Articolo | Parametro |
| Protezione dalle radiazioni | La dose di radiazioni a 100 mm dalla superficie dell'apparecchiatura è inferiore a 1 μsv/h |
| Velocità di scansione | 0-60 m/min regolabile |
| Frequenza di campionamento | 200kHz |
| Tempo di risposta | <0,1 ms |
| Campo di misura | 10-1000 g/m² |
| Larghezza del punto | 1 mm, 3 mm, 6 mm opzionale |
| Precisione di misurazione | P/T≤10%Integrale in 16 secondi: ±2σ: ≤±valore reale×0,2‰ o ±0,06 g/㎡; ±3σ: ≤±valore reale×0,25‰ o ±0,08 g/㎡;Integrale in 4 secondi: ±2σ: ≤±valore reale×0,4‰ o ±0,12g/㎡; ±3σ: ≤±valore reale×0,6‰ o ±0,18g/㎡; |
